Hommel-Etamic nanoscan

Rugozitate si contur simultan la scara nanometrica

Caracteristici principale Hommel-Etamic nanoscan

Hommel-Etamic nanoscan 855 include doua sisteme de masurare intr-unul singur oferind o utilizare flexibila, universala pentru toate sarcinile de masurare in domeniul masurarii starii suprafetelor – salvati astfel timp si bani.

Cu inalta sa rezolutie si ghidaje de inalta precizie utilizate, acest sistem exceptional de precis este util atat pentru cele mai fine caracteristici de rugozitate si pentru determinarea unor parametri micro-geometrie cat si pentru elemente mari de contur.

  • tehnologie RFID pentru recunoasterea automata a palpatorului si ajustarea automata a parametrilor de masurare (forta de palpare, calibrare etc.)
  • atribuirea automata a palpatorilor pentru fiecare sarcina de masurare
  • pozitionarea foarte precisa a captorului pentru masurare
  • masurare sus-jos, inauntru-afara
  • masurare filete cu evaluare automata

Detalii Hommel-Etamic nanoscan

  • sistem ultra-precis, opto-mecanic cu rezolutie inalta si plaja larga de masurare pentru masurari pe suprafete curbe sau inclinate
  • statie de lucru ergonomica cu platou de granit integrat si nivelare activa
  • cicluri de masurare automatizate, cu axe controlate CNC pentru o productivitate sporita
  • noi posibilitati de evaluare: masurare sus/jos in gauri, paralelism si unghiularitate din profile separate
  • masurarea topografiei suprafetei cu ajutorul axei optionale Y
  • calibrare usoara cu doar o singura sfera si cu un ciclu automat de calibrare
  • sistem magnetic rapid, precis si sigur pentru fixarea bratelor palpatoare; inserare in directia de palpare „jos” sau „sus” a aceluiasi brat
  • gama larga de optiuni pentru alegerea bratelor de palpare
  • incinta optionala pentru reducerea influentelor exterioare

Intreg sistemul este calibrat cu ajutorul unei sfere etalon si a unui ciclu automat.

Masurarea si evaluarea simultana a rugozitatii si conturului intr-un singur ciclu de masurare .

Brate de palpare cu doua varfuri permit masurarea automata in pozitie conventionala sau rasturnat. Ca rezultate, este posibila masurarea diametrelor interioare/exterioare.

Specificatii tehnice Hommel-Etamic nanoscan:


Descarcari